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IC芯片卡彎扭測試儀

更新時間:2024-08-19

簡要描述:

IC芯片卡彎扭測試儀簡介:本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

免費(fèi)咨詢:0513-81526002

我公司專業(yè)生產(chǎn)、研發(fā)和銷售物理力學(xué)性能試驗(yàn)設(shè)備,公司生產(chǎn)的力學(xué)試驗(yàn)機(jī)系列產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各種行業(yè)做理化檢測之用。是專業(yè)研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造的IC卡動態(tài)反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家。是國內(nèi)*家符合雙邊同時扭的試驗(yàn)機(jī)。本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列的反復(fù)彎曲扭轉(zhuǎn)試驗(yàn),電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)主要用于大專院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門、實(shí)驗(yàn)室等的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。 

 MX-IC  IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)

一、IC芯片卡彎扭測試儀簡介:本儀器針對性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

二、IC芯片卡彎扭測試儀技 術(shù) 參 數(shù)

1.型號:MX-IC
2.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
3.正反向各15°,總扭曲角度30°
4.測試周期:1~9999次

5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.長邊小位移量為2mm±0.50mm

8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.長邊小位移量為1mm±0.50mm

10.電 壓:AC220V±5%

11.外形尺寸:L670 X W380 X H220

12.功 率:35W

13.儀器重量:70kg

標(biāo)準(zhǔn)雙向扭轉(zhuǎn):

長邊彎曲工位數(shù):5工位

短邊彎曲工位數(shù):5工位

雙向扭轉(zhuǎn)工位數(shù):5工位

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