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更新時(shí)間:2024-08-21
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
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卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品介紹:
本儀器針對(duì)性IC卡在國標(biāo)GB/T 16649.1,國標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
儀器重量:70kg
電 壓:AC220V±5%
功 率:35W
測(cè)試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
試驗(yàn)速度:20~60r/min
卡槽為:15個(gè)
測(cè)試周期:1~9999次
扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°,總扭曲角度30°
長(zhǎng)邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊zui小位移量為2mm±0.50mm,
短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
長(zhǎng)邊zui小位移量為1mm±0.50mm,
夾具安裝尺寸*按照國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:
用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
卡片雙彎扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)使用方法?
(1) 儀器接通電源,將計(jì)數(shù)器,數(shù)值調(diào)到三個(gè)“0”,放上標(biāo)準(zhǔn)卡.
(2) 按扭曲啟動(dòng)按扭(此時(shí)只有點(diǎn)功能),看搖擺指針是否在±15°之間作往復(fù)運(yùn)
動(dòng).
(3) 按下彎曲啟動(dòng)按扭,使彎曲卡位處于距離遠(yuǎn),看指針分別在某一刻度,或者用卡尺測(cè)量臺(tái)面到卡的高度,然后再按下彎曲啟動(dòng)按扭,使得彎曲卡位處于距離近,看指針分別在另一刻度,或者用卡尺測(cè)量臺(tái)面到卡頂端高度,兩高度之差分別是10mm和20mm.